铁电薄膜铁电性能的测量方法1、电滞回线测量
进行电滞回线测量时图中电源u提供三角波，频率和幅度由用户通过软件设定，频率范为10hz到10khz，幅度范围为0到±10v。
通过参数和样品的厚度、尺寸参数很容易通过如下公式计算出铁电薄膜样品的线性电容cef和线性介电常数kef。
cef=q/v = (p^ *area)/emax
kef =( cef * thickness)/(% * area)
2、漏电流测量（电阻测量）
电源u提供0.5秒的直流电压给被测样品，电压值由用户设定，样品的漏电流通过电流放大和积分后的输出电压uy正比厂样品的漏电流i，再通过如下公式可计筇出样品的漏电导率。
h = v/i;
s = thickness/( r * area);
3、铁电疲劳性能测量
铁电疲劳性能是铁电薄膜材料的yong久极化与开关次数关系pr〜n。测试过程屮随着开关次数增加 pr逐渐减小，当pr小到一定值时±pr将不能分开,即1、0不能分开，此时即失去记忆性能，称为疲劳, 它是与铁电存储器密切相关的一个参数。
4、保持特性测量
铁电保持性能是铁电薄膜材料的yong久极化与时间关系pr〜t，它是铁电存储器使用可靠性的一个参数。