美国博曼bowman xrf系统是一种用于金属镀层厚度测量的精密台式仪器。 专业的检测技术和先进的软件使我们的系统也能够确定样品中存在的元素。 我们的xrf仪器同时可以测量多达五层金属厚度，所有镀层都可以是合金，并且还可以测量元素分析、电镀液分析，及线路板磷含量的实际百分比含量。
bowman xrf系统使用专门设计的微点聚焦x射线管作为能源，温度稳定的硅pin二极管作为探测器，宽带宽，多通道放大器用于对辐射光子进行分类和计数。 bowman xralizer软件采用*的算法来测量检测到的光子中材料的厚度。
通过微焦点相机对准x射线光学轴线选择样品的测试区域。 由聚焦激光控制的平台能容纳不同高度的样品。
bowman xrf镀层测量系统符合行业对精度，可靠性和易用性的严格要求。 紧凑，符合人体工程学的设计使分析便于每个应用 - 保证价格可以快速实现。
四个样本阶段选项
标准
固定基地
扩展可编程
xy基座
电动/可编程
xy基座
大旅行延长
xy基座
全系列产品满足用户不同的测量需求g系列珠宝业的过渡金属分析b系列小型电镀样品p系列“多面手”，适用于电子，常规电镀，贵金属o系列较大测量点的薄膜分析m系列采用µ-spot多导毛细管技术，分析极小测量点的薄膜l系列大型电镀样品w系列用于测量微电子领域的小特征
智能化设计，强大的分析
几秒内完成金属镀层无损分析成分分析多可分析25种元素同时测量多达五个涂层，所有涂层都可以是合金基础参数法-半定量分析厚度与成分轻松设置和操作 - 一根usb完成连接简洁的前控制面板占地面积小，节约空间轻量化设计，方便挪动直观的用户界面
提供分析灵活性，同时减少用户出错机会基于.框架xralizer软件直观的图标引导用户界面强大的定性/无标样分析功能功能强大的标准片库可定制快捷键，方便操作灵活的数据显示和导出强大的报告编辑生成性能，强大，便利
紧密耦合的几何设计极大提高测量效率和精度经验证的固态探测器可提供更高的分辨率，稳定性和灵敏度仪器预热时间短，x射线管灯丝寿命长可实现银、锡的l线薄膜分析多位置一次滤波器与多规格准直器可供选择灵活的焦距为复杂形状或厚度较大的样品提供测量便利模块化组件设计，维护简单