高低温冲击试验设备的应用：
高低温冲击试验箱如今十分活跃在电子元器件/模块冷热测试领域。因为它在进行恒温测试时具有稳定性，可以稳定的维持在某个温度点，精度可达±1℃;在做温度冲击时温变速度之快：-55℃~+125℃ ＜10秒；真正达到温度“冲击”目的；温度变化时间具有可控制性以及操作可程序化。
现阶段高低温冲击试验设备主要应用在以下方面：
1.芯片、微电子器件、集成电路(soc、fpga、pld、mcu、adc/dac、dsp等)；
2.闪存flash、ufs、emmc；
3.pcbs、mcms、mems、igbt、传感器、小型模块组件；
4.光通讯（如：收发器 transceiver 高低温测试、sfp 光模块高低温测试等）；
5.其它电子行业、航空航天新材料、实验室研究。