扫描电子金属显微镜 flexsem 1000通过高灵敏度二次电子探测器，背散射探测器，低真空探测器（uvd*2），实现低加速电压/低真空下高质量图像观察
扫描电子金属显微镜 flexsem 1000详细介绍
紧凑型设计，分辨率为4 nm*1
通过高灵敏度二次电子探测器，背散射探测器，低真空探测器（uvd*2），实现低加速电压/低真空下高质量图像观察
操作简捷，即使新手也能拍出高质量的图片
新开发的导航功能「sem map」，便于快速锁定视野
大窗口（30 mm2）sdd能谱系统，便于快速分析元素成分*2
​扫描电子金属显微镜 flexsem 1000技术规格
项目内容
分解能*34.0 nm @ 20 kv （se：高真空模式）
15.0 nm @ 1 kv （se：高真空模式）
5.0 nm @ 20 kv （bse：低真空模式）
加速电压0.3 kv ～ 20 kv
放大倍率6× ～ 300,000× （底片倍率）
16× ～ 800,000× （显示倍率）
低真空模式真空范围：6 ～ 100 pa
电子枪预对中钨灯丝
样品台3-轴自动马达台
x：0 ～ 40 mm, y：0 ～ 50 mm, z：5 ～ 15 mm
r：360°, t：-15° ～ ＋90°
大样品尺寸直径80 mm
大样品高度40 mm
尺寸主机：450（w） x 640（d） x 670（h） mm
供电单元：450（w） x 640（d） x 450（h） mm
探测器选配高灵敏度低真空二次电子探测器（uvd）
能量分散型x线探测器（eds）