数字式四探针电阻率测试仪型号：sx1944
产品说明
四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置。广泛用于半导体厂家、太阳能行业，还能满足科研单位的精密研究。
产品特点
四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法标准并参考美国a.s.t.m标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻（薄层电阻）测试仪器。
仪器以大规模集成电路为核心部件，采用旋扭式开关控制，及各种工作状态led指示。应用微计算机技术，使得测量读数更加直观、快速。整套仪器体积小、功耗低、测量精度高、测试速度快、稳定性好、易操作。
型号sx1944
测量范围电阻率：10-4～105ω-cm方块电阻：10-3～106ω/□电阻：10-4～105ω
可测半导体材料尺寸直径：φ15～100mm
测量方位轴向、径向均可
数字电压表⑴量程：200mv
⑵误差：±0.1%读数±2字
⑶大分辨力：10μv
显示:4位半数字显示。小数点自动显示
数控恒流源⑴电流输出：直流电流0～100ma连续可调，由交流电源供电。
⑵量程：1μa，10μa，100μa，1ma，10ma，100ma
⑶误差：±0.5%读数±2字
四探针测试探头⑴探针间距：1mm
⑵探针机械游移率：±1.0%
⑶探针：碳化钨，φ0.5mm
⑷压力：0～2kg可调,大压力约2kg
电源输入:ac220v±10%50hz功耗：<20w
外形尺寸主机260mm（长）×210mm（宽）×125mm（高）
备注usb接口，配软件