一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(ci)- 铀(u) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um
（一）、外部结构原理图
x荧光做镀层分析时，根据射线是至上而下照射样品，还是至下而上照射样品的方式，将x荧光分析仪的外部整体结构分为：上照射和下照射两种结构。
（二）、各种外部结构的特点
1、上照射方式
用于照射(激发)的x射线是采用由上往下照射方式的设备称为上照射仪器。此类设备的z轴为可移动方式，用于确定射线照射光斑的焦点，确保测量的准确性。
①、z轴的移动方式
根据z轴的移动方式，分为自动和手动两类；
自动型的设备完全由程序与自动控制装置实现，其光斑对焦的重现性与准确度都很高，而且使用非常简便（一般是与图像采集系统与控制系统相结合的方式），一般只需要用鼠标在图像上点击一下即可定位。此类设备对于测试形状各异的样品非常方便，也是目前主流的分析设备类型。
手动型设备，一般需要用人观察图像的方式，膜厚仪，根据参考斑点的位置，手动上下调节z轴方向，以达到准确对焦的目的。因此，往往在测试对象几何结构基本上没有变化的情况下使用比较快捷。
②、x、y轴水平移动方式
水平移动方式一般分为：无x、y轴移动装置；手动x、y轴移动装置；电动x、y轴移动装置；全程控自动x、y轴移动装置。
这几类的设备都是根据客户实际需要而设计的，例如：使用无x、y轴移动装置的也很多，结构简单，样品水平移动完全靠手动移动，这种设备适合于样品面积较大，定位比较容易的测试对象。
江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们*的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名通力合作，研究开发出一系列能量色散x荧光光谱仪。
测厚范围可测定厚度范围:取决于用户的具体应用。将列表可测定的厚度范围-基本分析功能无标样检量线测厚，可采用一点或多点标准样品自动进行基本参数方法校正。根据客户本身应用提供必要的校正用标准样品。样品种类:镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)可检测元素范围:ti22–u92可同时测定5层/15种元素/共存元素校正组成分析时，可同时测定15种元素多达4个样品的光谱同时显示和比较元素光谱定性分析-调整和校正功能系统自动调整和校正功能:校正x射线管、探测器和电子线路的变化对分析结果的影响，自动消除系统*移谱峰计数时，峰*移自动校正功能谱峰死时间自动校正功能谱峰脉冲堆积自动剔除功能标准样品和实测样品间，密度校正功能谱峰重叠剥离和峰形拟合计算-测量自动化功能(要求xy程控机构)鼠标控制测量模式:pointandshoot多点自动测量模式:随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式测量位置预览功能激光对焦和自动对焦功能-样品台程控功能(要求xy程控机构)设定测量点oneortwodatumn(reference)pointsoneachfile测量位置预览
江苏一六仪器 x荧光光谱测厚仪
下照式设计：可以快速方便地定位对焦样品。
无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。
微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。
接收：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。
精密微型滑轨：快速*定位样品。
efp*算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒efp算法软件。
泉州膜厚仪-一六仪器1由江苏一六仪器有限公司提供。“测厚仪,标准片”选择江苏一六仪器有限公司，公司位于：江苏省昆山市玉山镇成功路168号，多年来，一六仪器坚持为客户提供好的服务，联系人：邓女士。欢迎广大新老客户来电，来函，亲临指导，洽谈业务。一六仪器期待成为您的长期合作伙伴！