dectris pilatus3 r cdte混合像素光子计数x射线探测器
1、产品特点：dectris 混合像素光子计数x射线探测器
pilatus3 r cdte系列结合了无噪声单光子计数的优点和在大型碲化镉（cdte）传感器中直接检测硬x射线的优点。
与闪烁体的检测器相比，混合像素中的直接检测产生更锐利的信号和更好的空间分辨率。 cdte为mo，ag和in辐射提供接近100％的吸收效率。结合无噪声单光子计数，这将实验室中的x射线检测带入了一个新的灵敏度和准确度水平。
实验室中的x射线源，尤其是硬x射线的x射线源比同步加速器弱得多，因此需要较长的曝光时间并导致较弱的信号，由于没有暗电流和读出噪音，pilatus3 r探测器超过了实验室的所有其他技术。单光子计数不含所有其他噪声源以及cmos电容检测器内置的不准确性，例如复位噪声和非线性电荷响应。相反，由dectris instant retrigger technology提供动力的快速计数电子设备,结合精确的计数率校正提供宽泛的线性范围，*兼容所有实验室的x射线源。
具有挑战性的实验室应用（如电荷密度研究和配对分布函数分析）依靠硬辐射和具有出色信噪比的数据，pilatus3 r cdte探测器系列提供了高效直接探测和无噪声单光子计数的*组合，并且是实验室中这些要求的全能匹配。
2、核心优势：dectris 混合像素光子计数x射线探测器​
- mo，ag和in量子效率> 90％
- 直接检测清晰的空间分辨率
- 没有读出噪音，也没有黑暗信号达到高精度
- 高动态范围
- 荧光背景抑制
- 同步辐射证明的辐射硬度
- 免维护运行
- 高可靠性：没有容易发生故障的密封或复杂，冷却至室温以下
3、应用领域
- 电荷密度分析
- 配对功能（pdf）分析
- 高分辨率化学结晶学
- 高压/高温xrd
- 关键尺寸saxs
- 计算机断层扫描（ct）
- 无损检测（ndt）
4、技术参数：
pilatus3 r cdte
300k
300k-w
探测器模块数量
1 × 3
3 x 1
有效面积：宽×高 [mm²]
83.8 × 106.5
253.7 x 33.5
像素大小 [μm²]
172 x 172
总像素数量
487 × 619
1475 × 195
间隙宽度, 水平/垂直（像素）
*每个模块之间水平间隙增加1个像素
- */ 17
7* / -
非灵敏区 [ % ]
5.7
1.1
缺陷像素
< 0.1%
帧频 [hz]
20
读出时间 [ms]
7
点扩散函数
1 pixel（fwhm）
计数器深度
20 bits（1,048,576 counts）
功耗 [w]
30
尺寸（whd）[mm³]
158 x 193 x 262
280 x 62 x 296
重量 [kg]
7.5
7.0
模块冷却
水冷
外接触发电压
5v ttl