光学膜层厚度测量控制仪cdny-03am
cdny-03am是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有*的抑制能力。
主要性能指标及技术指标
主信号通道：
信号输入方式：单端交流输入
输入量程：0.5mv-500mv
信号频率范围:1khz±5%
本机频相噪声:≤4nv/hz(折合到输入端)
性误差: ≤0.1%
零点时源： ≤0.2%/h
参考信号通道：
信号输入方式：单端交流输入
输入幅度：20-700mv
频率范围:≥320。