场发射扫描电子显微镜是高分辨率电子显微镜中的一种，相对于透射电子显微镜（tem），其最大的区别在于扫描电子显微镜（sem）中的电子束是以特定方式扫描样品表面，而不是穿过样品内部，从而可以获得样品表面的图像和信息。以下是扫描电子显微镜的一些具体区别：
1.分辨率：sem的分辨率通常在纳米至亚纳米级别，比tem要稍低一些，但对于样品表面形态和结构的观察和分析，已经足够应用于许多领域。
2.样品要求：由于扫描电子显微镜是在真空条件下进行操作的，因此样品必须是干净的、不易挥发的、导电性强的，如金属、陶瓷或者没有太多的表面草酸盐的非金属材料，但这个限制已经不是很大的问题，因为有很多方法可以用于处理样品的电导性和表面清洁。
3.成像模式：tem在成像时是通过成像镜头在样品内部进行成像的，而sem则是通过电子束扫描在样品表面进行成像。sem的扫描模式分为两种，一种是图案成像模式，类似于电视屏幕的成像方式，每次扫描一个图案进行成像；另外一种是逐行成像模式，类似于传统电子显微镜，但只扫描样品表面，成像时需要对样品进行一定程度的运动以获得整个样品表面的图像。
4.成像信息：sem可以提供样品表面形貌及其微观结构、表面元素成分和形态分布等更为具体的信息，而tem则可以提供样品内部的微观结构信息。
总之，场发射扫描电子显微镜作为一种*的显微技术，越来越得到广泛的应用，不仅在物理学、化学、材料学等基础科学研究中，还在医学、生物学、电子工程、环境保护和地球科学等领域中发挥了重要作用。