您好,欢迎访问一九零五行业门户网

GB/T6547 ASTM D645纸张测厚仪

gb/t6547 astm d645纸张测厚仪
labthink兰光chy-c2 纸张测厚仪符合gb/t 6672、gb/t 451.3、gb/t 6547、astm d645、astm d374、astm d1777、tappi t411、iso 4593、iso 534、iso 3034、din 53105、din 53353、jis k6250、jis k6328、jis k6783、jis z1702、bs 3983、bs 4817标准,适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。
chy-c2 纸张测厚仪特征
微电脑控制、液晶显示
菜单式界面、pvc操作面板
接触式测量
测头自动升降
手动、自动双重测量模式
数据实时显示、自动统计、打印
显示zui大值、zui小值、平均值和统计偏差
标准接触面积、测量压力(非标可选)
标准量块标定
微型打印机
rs232接口
网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输
chy-c2 纸张测厚仪技术指标
测量范围:0~2mm(常规)
 0~6mm;12mm(可选)
分 辨 率:0.1μm
测量速度:10次/min(可调)
测量压力:17.5±1kpa(薄膜);50±1kpa(纸张)
接触面积:50mm2(薄膜);200mm2(纸张)
 注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制
电源:ac 220v 50hz
外形尺寸:300 mm (l)×275 mm (b)×300 mm (h)
净重:33kg
以上信息由济南兰光机电技术有限公司提供,详情请致电。
其它类似信息

推荐信息