相关产品介绍：
ct-alpha系统满足ct x射线严格的要求。借助这种计算机断层扫描系统，可以为单个客户的需求提供大的灵活性。
这个节省空间的系统可以配备不同的x射线功率，从纳米分辨率的160kv到225 kv，320瓦，到max功率450 kv，1500瓦。
可变焦点检测器距离可实现max对比度。作为一种选择，ct-alpha提供了用于较长物体的helix-scan技术，并大程度地避免了体积ct伪像的出现，从而实现了尺寸测量的较好结果。
很大的几何放大倍率可实现亚微米范围内的实时重建。ct-alpha系统非常适合无损检测，材料研究，尤其是内部结构，底切和自由曲面的尺寸测量。
特征：
-工业x射线计算机断层扫描（ct）
-3d体积ct
-无损检测（ndt）– 2d和3d
-质量控制与材料无关
-缺陷识别（空洞，裂缝等）
-非接触式计量
-实时ct重建
-环伪影抑制
-螺旋ct
-操作简便
-辐射安全性优于1 µsv / h
技术指标：
-x射线管：高达300 kv的微焦点
-max600 kv小型聚焦
-分钟 焦点：0.5 µm
-探测器：高达16 mp
-像素尺寸：0.27 µm至200 µm
-max扫描速度：每部分<10秒
-轴数：8
-空间分辨率：0.4 µm
-系统重量：<2.000 kg可能*
* 1门160kv型号