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IC芯片元器件的共面性测试仪

ic芯片元器件的共面性测试仪问题
引脚的共面性指器件引脚底面不在同一平面的情况。一般用引脚底面离元件引线确定的平面的距离表示。引脚共面性的问题,主要涉及多引脚的器件,如qfp、bga、连接器等。
一、仪器工作原理:
测量仪工作原理:被测工件(置于工作台上)由led表面光或轮廓光(在底座内)照明后,经变焦距物镜与彩色ccd摄影机罩壳内摄取被测零件影像,再通过s端子传送至计算机及显示器上,软件在显示器上产生的视频十字线为基准,对其进行瞄准测量,通过工作台带动光学尺与在x、y方向上移动,取空间各点坐标值,由转接卡至计算机,对测量坐标值进行几何运算,完成各种数据量测工作。
二、应用领域:
本仪器采用强大的测量软件,能率的检测各种形状复杂工件的轮廓和表面形状,1、元器件共面性测试、引脚移位检测、引脚高度错误检测、引脚面积测量、直径、角度、不规则面积测量、手轮可调节光栅、非刺眼型光源、高精度xz轴测距、spc过程统计如样板、冲压件、凸轮,成形铣刀等各种工具,刀具和零件,以及端子、钟表、金刚石等生产厂商。
三、仪器功能:
产品基本几何元素测量、组合元素测量、几何元素构造、形位公差评定、逆向工程等,各种报表的输出,各种产品的检测。
四、仪器特点:
1、机台核心零部件全部采用产品,整机经过严格,规范的组装和调试,整机在24小时恒温间内经300小时不间断运行负载测试。
2、自准直仪校准机台机身工作台装配工艺,保证机器空间测量高精度。
3、高牌号工作台,经过严格热处理时效,*使用保证基准面不变形,导轨运行精度稳定。
4、采用山东济南青“00”级花岗石底座,保证机械系统*的稳定性。
5、采用高精密v型交叉导轨,保证仪器*的机械精度。
五、测量软件简介:
1、全中文界面(语音可选择)、鼠标直接点击操作,智能型简便易学易用。
2、对一般几何测量圆、点、线、面、椭圆、圆弧、槽形、o形环、距离、角度、开云线、闭云线等,可以自动抓取量测数据,度稳定。
3、测量方法多样(自动判别测量、采点测量、对比测量、公差对比测量、预置元素等),可以满足用户不同需求,大大提高使用的方便性和测量精度。
4、测量工件可任意摆放,软件具有强大的坐标平移、旋转或重新设置功能。
5、可以在影像上对所测元素直接进行尺寸标定,给客户以清晰、直观的感觉。
6、无论规则与不规则形状工件只需鼠标框选,图形自动寻边找点,进行二维图形抄数。
7、实现dxf格式的输入和输出,还可保存bmp图片以及用户程序格式。
8、直观、丰富的报表输出,word 、excel、txt格式及统计功能。
9、实用的spc模块。
十字线中心采点、鼠标采点、自动对焦采点、鼠标自动采点、直线采点、方形框采点、放大采点、采集点。采点测量直线、框选测量直线、分段框选测量直线、采点测量圆、框选测量圆、分段框选测量圆、单击圆内部测量圆、框选测量多圆。采点测量弧、框选测量弧、分段测量超过屏幕的弧、采点测量椭圆、框选测量椭圆、分段测量椭圆、采点测量矩形、框选测量矩形。采点测量槽形、框选测量槽形、采点测量o环形、框选测量o环形、采点测量云线、采点测量闭合云线、影像测量高度、圆心框采点。自动捕捉测量、测量超过屏幕的线,弧,圆,椭圆、删除后一次采集的点。
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