发布时间：2017-03-14 阅读：473次
天瑞镀层测厚仪thick800a仪器性能及技术参数型号：800a
原理：x射线荧光光谱仪
生产厂商：skyray
天瑞800a镀层测厚仪
性能特点：
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
详细配置信息：
硬件：主机壹台，含下列主要部件：
(1) x光管 (2) si-pin电制冷半导体探测器
(3) 信号检测电子电路 (4) 高精度二维移动平台
(5) 高清晰摄像头 (6) 高低压电源
(7) 开放式样品腔 (8）双激光定位装置
(9) 铅玻璃屏蔽罩
软件：天瑞x射线荧光光谱仪fpthick分析软件v1.0
技术指标：
1.1 分析元素范围：k-u
1.2 同时可分析多达5层镀层
1.3 分析厚度检出限高达0.005μm
1.4 定位精度：0.1mm
1.5 测量时间：5s-300s
1.6 计数率：0-8000cps
1.7 z轴升降范围：0-140mm
1.8 x/y平台可移动行程：50mm(w)×50mm(d)
工作环境要求：
2.1 环境温度要求：15℃-30℃
2.2 环境相对湿度：<70%
2.3 工作电源：交流220±5v
2.4 周围不能有强电磁干扰。
天瑞800a镀层测厚仪