光纤式非接触式位移计pm-e测量原理分析
pm-e是一种通过光纤将光照射到被测物体并检测反射光，从而可以轻松地以非接触方式测量物体位移的装置。被测物体的反射光量随被测物体与光纤探头端面的距离（间隙）的不同而不同，如下图所示。此时反射光相对于图中ⓑ（前坡）和ⓓ（后坡）区域的间隙几乎呈线性变化，因此这些区域被用于位移测量。由于一个单元具有两个位移检测特性，您可以在需要高分辨率的测量中使用前斜率，在需要宽测量范围的测量中使用后斜率。此外，ⓐ（光峰位置）对位移的敏感度低，因此可用于检测被测物的表面状况和缺陷。
它是一种通过光纤将光照射到被测物体并检测反射光，从而实现位移和振动的高速非接触变化的装置。由于它利用光进行测量，因此被测物体上没有负载，不受磁场或电场的影响。追求小型化和简单化的“pm-e”是一款满足研发和各种工业领域广泛要求的产品。
・完quan非接触式，可广泛用于测量振动、位移、表面状态等。
・抗电磁干扰，可进行微点测量
・因为前斜面和后斜面都可以使用，所以可以同时实现高灵敏度和宽范围。
・维护简单快捷，费用低