反射率测量装置msp-100的特点介绍
以未有的低成本实现微小区域、曲面和超薄样品的高速、高精度测量。
通过使用特殊的半反射镜，可以减少背面反射光，无需背面处理即可在短时间内进行精确测量。
（可测量 0.2 mm 薄板的反射率：使用 ×20 物镜时）
还可以测量镜片曲面和涂层不均匀度。（在样品表面连接微小点（φ50μm））
即使是低反射率的样品也可以在短时间内进行测量，并且具有高重复性。（光学设计捕获最大量的光，并
通过512元件线性pda、内置16位a/d转换器和usb 2.0接口的高速计算实现快速测量。）
可以进行色度测量和l*a*b*测量。可以使用光谱比色法根据光谱反射率来测量物体。
数据可以以 microsoft excel(r) 格式保存。
单层薄膜可以非接触式、非破坏性地测量。
具有在同一屏幕上显示多个测量结果的功能。轻松比较测量结果。
规格型号msp-100
测量波长380～1050nm
测量重复性±0.2%(380-450nm)
±0.02%(451-950nm)
±0.2%(951-1050nm)
样品面 nana 0.12（使用 10 倍物镜时）
样品测量范围φ50μm（使用10倍物镜时）
样品曲率半径-1r~-无穷大, +1r~无穷大
显示分辨率1纳米
测量时间几秒到十几秒（取决于采样时间）
外形尺寸(宽)230×(高)560×(深)460mm（仅机身）
工作温度限制18～28℃
工作湿度60%以下（无凝露）