互补性显微术是目前最先进的纳米级样品分析技术之一。它将透射电镜和扫描电镜两种技术结合在一起，使得我们可以在不同的尺度上进行三维重构和分析同一个纳米级样品。
使用互补性显微术可以获得高分辨率的图像，能够揭示出纳米尺度下的结构和形貌信息。透射电镜能够提供样品的内部结构信息，而扫描电镜则能够提供样品表面结构信息。因此，在使用互补性显微术时，这两种技术可以相互补充，形成全面的样品信息。
在使用互补性显微术进行三维重构时，可以先使用透射电镜进行样品的切片，获得大量的二维图像。然后，使用成像软件将这些二维图像进行重叠和配准，生成一个三维模型。此时，可以使用扫描电镜来检查这个三维模型的表面形貌。这样，我们就可以更加全面地了解样品的形态和结构。
在样品分析方面，互补性显微术也有很大的实用价值。例如，我们可以使用透射电镜对样品的内部结构进行分析，了解其纳米级别下的化学成分和结构特征；而使用扫描电镜，可以分析样品表面的形貌和结构，例如纳米级别下的凹凸、粗糙度等信息。另外，还可以通过成像技术将透射电镜和扫描电镜得到的信息进行结合，获得更加完整的样品信息。
总之，互补性显微术是一种非常先进的纳米级样品分析技术。它将透射电镜和扫描电镜两种技术结合在一起，可以在不同的尺度上进行三维重构和分析同一个纳米级样品。这种技术具有高分辨率、全面性、准确性等优点，为纳米科技的研究提供了非常重要的工具。