picofemto系列透射电镜原位测量系统源于中科院物理研究所sf1组（20世纪90年代），围绕原位电学测量样品杆，不断进行产品迭代及功能拓展，已推出电、力、光、热、低温等多种原位功能样品杆，产品覆盖国内原位电镜市场的同时也远销美国、英国、德国及澳大利亚科研市场。
picofemto 系列透射电子显微镜 原位电学测量样品杆是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控
制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品
的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。
原位电学测量样品杆技术指标
原位电学测量样品杆产品选型
原位电学测量样品杆 具有单倾、双倾两个版本，用户可根据实验需求自行选择。
提供适配thermofisher/fei（赛默飞）、jeol（日本电子）、hitachi（日立）各型号透射电子显微镜及
极靴的不同型号样品杆，同时保证透射电镜原有分辨率。
典型案例
1、透射电镜内的原位电学实验；
2、透射电镜内的原位压缩、拉伸实验。
以上便是为您带来的透射电镜原位电学测量样品杆介绍，关于透射电镜原位
电学测量样品杆价格请咨询（微信同号）。
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