安东帕的mcr 系列流变仪之对流控温系统 (ctd) 具有的温度控制性能，非常利于测量熔体和固体 (dmta) 以及薄膜纤维的拉伸流变。ctd 系统采用对称设计，可以保证对所有测量系统(从平行板到固体夹具)进行无梯度的温度控制，从而确保测量聚合物熔体、玻璃熔体、金属熔体和固体时获得*测量结果。此款对流温控设备设计新颖，附件全面，是资深流变学家的*之选。
ctd系统可通过zui高精度温控装置进行测量，从室温到180 °c、450 °c、620 °c 或 1000 °c。可以选择液氮冷却，能够进行低至-150 ºc 的测量。采用帕尔贴系统进行冷却时，温度低至 -20 ºc (ctd 180)，快速轻松地转换配件。
ctd 180湿度配件
光波炉设备 ctd 180 的湿度选件可在受控的温度和湿度条件下进行流变测量，以防止样品变干。可用于研究材料在受控的湿度环境下的特性。通过使用各种固定装置，ctd 180 可在受控的湿度环境下测量从液体到固体的材料。