x射线衍射仪是利用x射线的衍射现象来测量样品分子三维立体结构或特征x射线衍射图谱的检测分析仪器，广泛应用于薄膜分析、样品质地评估、晶相和结构监测、样品应力和应变研究等不同的领域。
x射线衍射仪的基本原理：
晶体可以作为 x 射线的空间衍射光栅，即当一束 x 射线通过晶体时将发生衍射，衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强，在其他方向上减弱，体现在x射线衍射图谱上就是具有不同的衍射强度的衍射峰。通过分析x射线衍射图谱就可以测定物质的晶体结构。
x射线衍射仪的应用：
1.物相分析
每一种晶体物质和它的衍射花样都是一一对应的，不可能有两种晶体给出*相同的衍射花样。随着xrd标准数据库的日益完善，将样品的xrd谱图与标准谱图进行对比就可以确定样品的物相组成。
2.测定点阵常数
点阵常数是晶体物质的基本结构参数。通过x射线衍射线的位置(θ)的测定可以获得点阵常数，通过测定衍射花样中每一条衍射线的位置均可得出一个点阵常数值。
3.测定晶粒尺寸和点阵畸变
纯谱线的形状和宽度由试样的平均晶粒尺寸、尺寸分布以及晶体点阵中的主要缺陷决定，故对线形作适当分析，原则上可以得到上述影响因素的性质和尺度等方面的信息。
x射线衍射仪的使用范围：
金属材料：半导体材料、合金、超导材料、粉末冶金材料；
无机材料：陶瓷材料、磁性材料、催化剂、矿物、水泥、玻璃；
复合材料：碳纤维、纤维大分子、工业废弃物；
有机材料：医药品、工程塑料、各种树脂等。