介质损耗测试仪详细简介
一、概况
sx介质损耗测试仪是一种*的测量介质损耗(tgδ)和电容容量(cx)的仪器，用于工频高压下，测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗(tgδ)和电容容量(cx)。sx介质损耗测试仪淘汰了qsi高压电桥，具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压，抗力强， 测试时间短等优点，sx介质损耗测试仪是第三代智能化介质损耗测试仪。
二、技术指标
1、环境：-5℃～40℃(液晶屏应避免长时间日照)
2、相对湿度：30%～70%
3、供电电源：电压：220v±10%，频率50±1hz
4、外形尺寸：长*宽*高=440mm*295mm*360mm
5、重量：22.5kg
6、输出功率：1.5kva
7、显示分辨率：3位、4位(内部全是6位)
8、测试方法：正接法、反接法、外接试验电压法
9、测量范围：内接试验电压：≤60000pf(10kv电压大于30000pf)
外接试验电压：由外接试验变压器输出功率而定
10、基本测量误差：
介质损耗(tgδ)：1%±0.04%
电容容量(cx)：1%±1pf