日本napson高规格半自动四探针电阻/比电阻/薄层电阻测量仪rt-3000 / rg-2000（rg-3000）
可根据客户要求进行各种定制
产品特点具有醉佳电阻测量范围的4探针法测量仪测量模式可编程和圆形/方形测量兼容的绘图软件自检功能，厚度/外围位置/温度补偿功能（用于硅）根据电阻范围从两种类型的测试仪中选择（rt-3000（s）：宽范围的测量范围，rt-3000（h）：高阻的测量范围）测量规格测量目标
与半导体/太阳能电池相关的材料（硅，多晶硅，sic等）新材料/功能材料（碳纳米管，dlc，石墨烯，银纳米线等）导电薄膜相关（金属，ito等）扩散样本硅基薄膜（ltps等），igzo硅基外延离子注入样品其他（*请与我们联系）测量尺寸
〜8英寸，或〜156x156mm
-选项（兼容大直径尺寸：rg-3000型）：〜12英寸，〜210 x 210毫米
测量范围
①rt-3000（s）；
[电阻（比电阻）]100μ至1mω·cm
[片材电阻] 1m至10mω/
sq②rt-3000（h）;
[片材电阻] 10m至1gω/ sq
映射图像日本napson高规格半自动四探针电阻/比电阻/薄层电阻测量仪rt-3000 / rg-2000（rg-3000）