二手菲希尔镀层测厚仪转让，台式x荧光光谱仪价格产品介绍
台式x荧光光谱仪价格由深圳市美程精密电子有限公司现货销售台式x荧光光谱仪价格,xau系列荧光光谱仪是一机多用型光谱仪，应用了核心efp算法和微光聚集技术，既保留了测厚仪检测微小样品和凹槽的膜厚的性能，又可满足微区rohs检测及成分分析。
基本参数
fischer德国菲希尔 型号 xdlm 237
新旧程度 9成新 加工定制 宽×深×高[mm]：570×760×650，内部尺寸宽×深×高[mm]：460×495x
类型 x射线荧光光谱测厚仪 材料 105 kg
fischer 产地 德国
型号 xdlm 237 元素范围 氯cl（17）至铀u（92）–同时多达24种元素
设计用途 能量色散x射线荧光光谱仪（edxrf）用于确定薄涂层，小结构，痕迹和合金。 设计理念 台式仪器，测量门向上开启
测量方向 由上往下 x射线源 带铍窗口的钨管
高压 可调： 30 kv，40 kv，50 kv 孔径准直器 ?0.2毫米 ?0.3毫米 插槽0.05毫米x 0.05毫米（其他可根据要求提供）
二手fischerscope?-x-rayxdlm?仪器转让，安装、调试、人员培训一站式服务
费希尔x射线荧光光谱镀层材料分析仪/x-ray厚度测试仪/射线镀层厚度检测仪fischerscope x-ray xdal 237是一款应用广泛的能量色散型射线荧光材料分析及镀层测厚仪。它尤其适合在自动化测量应用中无损测量薄镀层厚度和分析材料。fischerscope x-ray xdal 237费希尔x射线荧光光谱镀层材料分析仪配备可编程运行xy轴工作台及z轴升降系统，全自动测量薄镀层厚度和分析材料成分。
费希尔x射线荧光光谱镀层材料分析仪的详细介绍
费希尔x射线荧光光谱镀层材料分析仪/x-ray厚度测试仪/射线镀层厚度检测仪fischerscope x-ray xdal 237典型的应用领域有：
分析小于的薄镀层
测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
测定复杂的多镀层系统
全自动测量，如在质量控制领域
分析焊锡中铅含量
配备可选的sdd探测器：可测量镍磷中的磷含量
费希尔x射线荧光光谱镀层材料分析仪/x-ray厚度测试仪/射线镀层厚度检测仪fischerscope x-ray xdal 237设计理念：
fischerscope x-rayxdal237是一款界面友好的台式测量仪器。它装备了高精度，可编程运行的工作台和电调的轴升降系统，是进行自动测量的理想仪器。当保护门开启时，工作台会自动移到放置样品的位置。通过激光光点，可以辅助定位并快速对准测量位置。高分辨率的彩*摄像头具备强大的放大功能，可以精-确定位测量位置。通过视频窗口，还可以实时观察测量过程和进度。位置的精-确微调可以直接手动调整仪器或摇杆，或通过操作鼠标和键盘来实现。测量箱底部的开槽是专为面积大而形状扁平的样品设计，由此仪器就可以测量比测量箱更长和更宽的样品。例如：大型的印制电路板。有的操作，测量数据的计算，以及测量数据报表的清晰显示都是通过强大而界面友好的软件在电脑上完成的。
xdal型镀层测厚及材料分析仪作为受*保护的仪器，型式许可符合德国“deutsche r?ntgenverordnung-r?v”法规规定。
为了使每次测量都在*佳的激发条件下进行，费希尔x射线荧光光谱镀层材料分析仪/x-ray厚度测试仪/射线镀层厚度检测仪fischerscope x-ray xdal 237配备了可电动切换的多个准直器和基本滤片。半导体探测器能够达到很高的分析精度及探测灵敏度。型射线荧光材料分析及镀层测厚仪有着良好的长期稳定性，这样就大大减少了重新校准仪器的需要，为您节省时间和精力。由于采用了基本参数法，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行分析和测量。从元素铝（）到铀（），*多可同时测定种元素。尤其适合测量和分析薄镀层，即使是十分复杂的成分构成或是十分微小的成分含量都不成问题。仪器配备高速可编程运行的平台，它是质量控制和生产监控的自动测量过程的合适的测量仪器。
费希尔x射线荧光光谱镀层材料分析仪/x-ray厚度测试仪/射线镀层厚度检测仪fischerscope x-ray xdal 237详细参数规格：
1、通用规格
设计用途：能量色散x射线荧光材料分析及镀层测厚仪用来测量薄镀层和微小结构，分析合金和微量组分。
形式设计：台式仪器，测量门向上开启可编程的工作台和电调的轴马达驱动的可更换的准直器和基本滤片
视频摄像头和激光点（类）定位测量点。
测量方向：从上到下。
2、x射线源
x射线管：带铍窗口的微聚焦管
高压、三档：10、30、50kv
孔径（准直器）：4个可切换准直器：圆形；长方形、可按要求定制其它规格。
基本滤片：3种可切换的基本滤片（标准配置：镍，铝，无）
测量点：取决于测量距离及准直器大小；在视频窗口中显示实际的测量点大小。*小的测量点大小约为0.15mm直径。
测量距离：0-80mm、在不同距离使用砖利简化方法的距离补偿测量。如果是特定的应用程序或更高的校准精度要求，校正是必要的。
3、x射线探测
标准：x射线接收器采用珀耳帖法冷却的半导体探测器、能量分辨率小于等于200ev、元素范围硫为s(16)到到铀u(92)
可选sdd：x射线接收器采用珀耳帖法冷却的硅漂移探测器、能量分辨率小于等于160ev、元素范围为铝al(13)到铀u(92)
4、样品定位
视频系统：高分辨率彩色摄像头，沿着初级射线光束方向观察测量位置手动聚焦，对被测位置进行监控
十字线（带有经过校准的刻度和测量点尺寸）、可调节亮度的照明、激光光点用于精-确定位样品。
放大倍数：40*-160*
5、工作台
快速，电机驱动，可编程的x/y工作台
移动范围xy方向：255mm*235mm；z轴:140mm
xy平台移动速度80mm/s
xyz移动重复精度小于等于0.01mm（单向）
可用样品放置区域长宽：300mm*350mm
样品重量5kg，降低精度要求情况下可达20kg
样品高度140mm
6、电气参数
电源要求交流220v、50hz
功耗120w(不包括计算机)
保护等级ip40
7、尺寸规格
外部尺寸宽深高：570*760*650
重量约115kg
内部测量室尺寸宽深高：460*495*146
8、环境要求
使用时温度：10-40摄氏度
存储或运输时温度：0-50摄氏度
空气相对湿度，小于等于95%、无结露
9、计算单元
计算机：带扩展卡的计算机系统
软件：标准：包含fischer winftm basic包含pdm；可选：fischer winftm super
10、执行标准
ce合格标准：en61010
x射线标准：din iso 3497和astm b 568
型式批准：作为受*保护的仪器
型式许可*符合德国“deutsche r?ntgenverordnung-r?v”法规的规定。