四探针方阻电阻率测试仪型号：
一.描述description：采用范德堡测量原理能解决样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，提供通讯接口，pc软件数据处理及数据分析.中文或英文语言版本.二.参照标准standard：硅片电阻率测量的标准（astmf84）及国家标准设计制造；gb/t1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》、gb/t1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.三.适用范围applicablescope：适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析半导体材料质量的工具；液晶显示，自动测量和系数补偿，并带有温度补偿功能，自动转换量程；采用ad芯片控制，恒流输出，选配：pc软件，保存和打印数据，生成报表用于：覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、导电窗膜导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电**涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试等相关产品四.型号及参数modelsandtechnicalparameters规格型modelft-3311.方块电阻范围sheetresistance10-5～2×105ω/□2.电阻率范围resistivity10-6～2×106ω-cm测试电流范围testcurrent0.1μa，1μa，10μa，100µa，1ma，10ma，100ma4.电流精度currentaccura±0.1%5.电阻精度resistance≤0.3%6.显示读数display液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率lcd:resistance.resistivity.sheetresistance.temperature.unitconversion.temperaturecoefficient.current.voltage.probeshape.probespacing.thickness.conductivity 7.测试方式testmode普通单电测量generalsingleelectricalmeasurement8.工作电源power输入:ac220v±10%.50hz功耗：<30w9.误差errors≤4%（标准样片结果standardsampleresults）10.选购功能choosetobuy选购1.pc软件；选购2.方形探头；选购3.直线形探头；选购4.测试平台；5.标准电阻1.pcsoftware;2.squareprobe;3.linearprobe;4.testplatform.11.测试探头testprobe探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格;探针材质选购：碳化钨针;白钢针；镀金磷铜半球形针optionalprobespacing:1mm；2mm；3mminthreesizes.selectprobematerial:tungstencarbideneedle.whitesteelneedle.gildedcopperhemisphericalneedles.