marsurf cm select 是强大的可配置型共聚焦显微镜，用于表面的三维测量和分析 – 非接触，与材料无关，而且速度快.
典型测量任务
粗糙度测量符合
iso 4287 & iso 13565 / iso 25178
表面特征轮廓测量（包括体积、磨损、摩擦学）
轮廓和形状 (2d, 3d)
孔，颗粒分析
缺陷检测
根据应用调整的测量解决方案
作为一个多传感器系统，marsurf cm select 将多种传感器技术结合到了一个测量设备中。也可以根据测量任务选择最佳的点传感器。marsurf cm select 可以满足您对样品尺寸、自动化、测量舒适度和准确性的个性化要求 - 甚至全自动的测量解决方案。
最高数据质量
我们最重要的标准之一，即优异的精度、准确性、可再现性和文档记录，保证可追溯性和可审核性。我们为客户提供的最高服务就是提供能够可靠地用于工程、产品、工艺设计和质量控制领域的定量测量值。
marsurf cmselect
分辨率 可达 2 (nm) 垂直
测量速度 最高 100fps
工件最大重量 (kg) 15kg
测量原理 共聚焦高性能 led（505 nm / 白）
语言 德语 , 英语 , 法语 , 意大利语 , 西班牙语 , 葡萄牙语 , 波兰语 , 俄语 , 土耳其语 , 中文 , 日语 , 韩语
其他 xyz 方向碰撞检测
电源 100 - 240 v
表面参数 iso 4287, iso 13565, iso 25178,
…
我们产品的各种应用
机械工程
鉴定和量化粗糙度、几何形状和磨损量
电子和半导体
亚微米级的组件检测，确保产品无缺陷
医疗技术
生产和实验室中医疗表面的质量保证
材料科学
新表面和产品的功能属性的优化
微系统技术
以纳米级精度测量最小组件的复杂表面几何形状