yq-b变频抗干扰介质损耗测试仪测量介质损耗的仪器
一、概述：
yq-b变频抗干扰介质损耗测试仪是一种先进的测量介质损耗（tgδ）和电容容量（cx）的仪器，用于工频高压下，测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗（tgδ）和电容容量（cx）。它淘汰了qsi高压电桥，具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压，抗干扰能力强， 测试时间短等优点，是我公司的第三代智能化介质损耗测试仪。
二、特点：
yq-b变频抗干扰介质损耗测试仪为升压与测量一体化结构，输出电压2.5kv~10kv五档可调，以适应各种需要，在测量时无需任何外部设备。接线与qsi电桥相似，但比其方便。
标准回路由内置高压稳定度标准电容器与标准电阻网络组成，由计算机实时采集标准回路电流与测试回路的电流幅值及其相位差，并由之算出被测试品电容容值（cx）和其介质损耗（tgδ）。
数据采集电路全部采用高压稳定器件，采集板和采集计算机被铁盒*浮空屏蔽，仪器外壳地屏蔽；另外使用了光导数据、浮空地、大面积地、单点地、数字滤波等抗干扰技术，加之计算机对数百个电网周期的数据进行处理，使测量结果稳定、、可靠。
三、技术参数：
1、抗干扰方式：变频抗干扰
2、测试方式：正接法 反接法 自激法 外接法
3、测量范围：
电容量：内接高压 <3pf~60000pf/10kv 60pf~1μf/0.5kv
外接高压 3pf~0.3μf/10kv zui小分辨率 0.01pf 有效数字五位
介损：不限,zui小分辨率0. 01%
4、准确度：
电容量：±(1.5%读数+2pf) 介损：±(2%读数+0.09%)
内接试验电源：0.5~10kv 电压缓升缓降 45、50、55、60、65hz单频
45/55hz自动双频测试 zui大输出电流200ma
自激电源3~50v变频 zui大输出电流20a
5、测量时间：约30秒（与测量方式有关）
6、输入电源：供电电源180~240vac 50hz（市电或发电机供电）
7、工作环境：温度范围：－10℃~50℃ 相对湿度<90%