芯片可靠度测试
可靠度技术概念
可靠度是产品以标准技术条件下，在特定时间内展现特定功能的能力，可靠度是量测失效的可能性，失效的比率，以及产品的可修护性。根据产品的技术规范以及客户的要求，我们可以执行mil-std, jedec, iec, jesd, aec, and eia等不同规范的可靠度的测试。
测试机台种类
高温贮存试验 (htst, high temperature storage test)：hongzhan pv-324
低温贮存试验(ltst, low temperature storage test)：hongzhan :pl-4kp psl-2kh
温湿度贮存试验 (thst, temperature & humidity storage test)：hongzhan :pl-4kp psl-2kh
温湿度偏压试验 (thb, temperature & humidity with bias test)：hongzhan :pl-4kp psl-2kh
高温水蒸汽压力试验 (pressure cooker test (pct/ub-hast)：hongzhan ehs-221md
高加速温湿度试验 (hast, highly accelerated stress test )：hongzhan ehs-221md
温度循环试验 (tct, temperature cycling test)：hongzhan tsa-71h
温度冲击试验 (tst, thermal shock test )：hongzhan tsb-51
高温寿命试验 (htol, high temperature operation life test )：kyec kye 680 sse b1120m
高温偏压试验 (blt, bias life test)：kyec kye 680 sse b1120m
回焊炉 (reflow test)：台技 smd-10-m16hao