易科泰样芯分析技术——基于云服务的地矿高光谱成像分析解决方案
岩心高光谱成像扫描技术在地矿领域有着重要的应用前景，可以提供矿物填图、丰度评估、矿脉走向预测等一系列数据，但对很多地质*来说，无法快速将光谱结果进行分析和地理信息融合是限制高光谱技术走向应用的门槛所在，针对这一现象，易科泰样芯分析技术现推出基于云服务的地矿高光谱成像分析解决方案，旨在为地矿高光谱大数据采集、数据库建设及在线分析填图提供技术支持。sisurock多样芯高通量高光谱成像扫描分析系统，集合高分辨率可见光、visir（可见光近红外波段）、swir（短波红外）、mwir（中波红外）及lwir（长波红外）等传感器，可对大量岩矿样芯、土壤样芯等进行快速、高通量的光谱数据获取。基于云服务的地矿高光谱成像分析平台可对sisurock扫描所得样芯数据进行自动样本提取，提供数据去噪、矿物填图、图像分割等处理服务，还可定制包含相关地质信息的3d模型，实现光谱数据的快速解译和应用。
应用案例：斑岩矿样芯的矿物填图和矿脉探测来自德国亥姆霍兹联合会资源技术研究所的laura tusa等(mineralization et al., 2019)研究人员，在罗马尼亚的bolcana地区，使用sisurock样芯分析设备搭配aisafenix vnir-swir 高光谱传感器采集了当地斑岩矿样芯的数据进行分类分析。为了更好的呈现矿脉的走向，研究人员根据光谱图像中的曲线结构进行数据分离，得到了如下矿脉分布图。左：图dc1,dc2和dc3分别为三个样芯。其中i为样芯的rgb图，ii为基于高通量高光谱数据的矿物填图，iii为提取后的矿脉分布图。右：图sem-mla和hsi分析结果对比图。dc1,dc2和dc3分别为三个样芯，其中i为sem-mla全分辨率矿物填图，ii为基于高光谱高通量数据的矿物填图，iii为sem-mla数字化提取特征后的矿脉分布图，iv为基于hsi提取的矿脉分布图为了验证高光谱成像（hsi）分类结果的有效性，科研人员同时使用了高分辨率扫描电子显微镜搭配矿相解离分析仪（sem-mla），得到分辨率更高的矿脉分布图，并提取其特征与高光谱数据结果进行比对，结果发现高光谱分析得到的矿脉走向与sem-mla结果偏差小于4.5o，其厚度准确率平均值达到了81%。证明高光谱扫描技术可以可靠的实现更快速、无损且有效的矿物识别和填图绘制，为完善地质学家的样芯分析提供了有效的工具。易科泰生态技术公司spectrapp光谱成像创新应用项目、易科泰光谱成像与无人机遥感研究中心（西安）为您提供地质矿产勘查全面解决方案
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