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测厚仪|覆层测厚仪|薄膜测厚仪TT240

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|概述:
tt240|薄膜测厚仪是一种手持式测量仪,它能快速、无损伤、精密地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度;可广泛用于在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域;是材料保护专业*的仪器。
|薄膜测厚仪符合以下标准:
● gb/t 4957-1985 涡流方法
● jjg 818-93 《电涡流式测厚仪》
● jb/t8393-1996磁性和涡流
|功能特点:
● 采用了涡流测厚法,可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度
(如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层)
● 具有两种测量方式:连续测量方式(continue)和单次测量方式(single)
● 具有两种工作方式:直接方式(direct)和成组方式(appl)
● 设有五个统计量:平均值、zui大值(max)、zui小值(min)、测试次数(no.)、标准偏差
● 可进行零点校准和二点校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正
● 具有存贮功能:可存贮350个测量值
● 具有删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据
● 可设置限界:对限界外的测量值能自动报警
● 具有打印:可打印测量值、统计值
● 具有与pc机通讯的功能:可将测量值、统计值传输至pc机,以便对数据进行进一步处理
● 具有电源欠压指示功能
● 操作过程有蜂鸣声提示
● 具有错误提示功能
● 具有自动关机功能
|的技术指标:
测头类型
n
测量原理
电涡流
测量范围
0-1250um | 0-40um(铜上镀铬)
低限分辨力
1µm(10um以下为0.1um)
探头连接方式
分体式导线连接
示值误差
一点校准(um):±[3%h+1.5]
两点校准(um):±[(1%~3%)h+1.5]
测量条件
zui小曲率半径(mm):凸3 | 凹10
基体zui小面积的直径(mm):ф5
zui小临界厚度(mm):0.3
温湿度
0~40℃ | 20%rh~90%rh
统计功能
平均值、zui大值(max)、zui小值(min)、测试次数(no.)、标准偏差
工作方式
直接方式(direct)和成组方式(appl)
测量方式
连续测量方式(continue)和单次测量方式(single)
上下限设置

存储能力
350个测量值
打印/连接计算机
可选配打印机/能连接电脑
关机方式
手动和自动
电源
二节aa型碱性电池
外形尺寸
152×47×35mm
重量
370g
|薄膜测厚仪基本配置:
主机
铝基体
标准片一套|五片
二节aa型(5号)1.5v电池
仪器保护套
使用说明书
涂层测厚仪可选附件
ta230打印机
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