产品名称：数字式四探针测试仪
产品型号： szt-i
数字式四探针测试仪型号：szt-i
szt-i型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置。它可以测量片状、快状半导体材料径向和轴向电阻率，测量片状半导体材料的电阻率和扩散层的薄层电阻（方块电阻），换上特制的四探针测试夹，还可以对金属导体的低中值电阻进行测量。此外，探针经过特殊加工后，还可以测量薄膜材料电阻率。广泛于半导体材料、器件厂、高等院校化学物理系、科研单位，对半导体材料的电阻性能测试。
本仪器测试探头采用宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针，定位准确，游移率小，使用寿命长。
技术参数：
1．测量范围：
电阻率：10的-4次方~10的3次方ω-cm
方块电阻：10的-3次方~10的4次方ω/□
电阻：10的-6次方~10的5次方ω
导电类型鉴别：电阻率范围10的-4次方~10的3次方ω—cm
2．可测半导体材料尺寸
直径：φ15~100mm
长度：≤400mm
3．测量方法：
轴向、断面均可
4．显示方式：31/2,数显,极性、过载自动显示，小数点、单位自动显示。
5．恒流源：
（1）电流输出：直流电流0~100ma连续可调。
（2）量程：10、100μa、1、10、100ma
（3）误差：±0.5%读数±2个字
6.四探针测试探头
（1）探针间距:1mm
（2）材料:碳化钨.探针机械游移率:±1.0%
7.电源:220±10%50hz或60hz功耗:＜35w