手持式回损仪jw3308
jw3308手持式回损仪设计用于测量各种光器件、光链路的反射衰耗，控制光纤接头质量，在光纤安装和系统运行的过程中，可测试光回损质量，是应用于现场的*化解决方案。可分别用做光回损测试仪、光功率计、光源，并具有数据存储功能。
技术指标
光回损测试
测试波长（nm）
1310/1550
谱宽（nm）
<5
显示范围（db）
6~70
精度（db）
±0.5
分辨率（db）
0.01
光功率计
波长范围（nm）
850～1650
校准波长（nm）
850、1300、1310、1490、1550、1625
检测器类型
ingaas
显示模式
dbm、db、w
显示范围（dbm）
－70～＋6
zui大输入功率（dbm）
＋6
分辨率（db）
0.01
精度（db）
0.3
光源
波长（nm）
1310/1550
谱宽（nm）
<5
zui大输出功率（dbm）
-3
稳定度（db，30min）
± 0.05
调制频率（hz）
cw, 270, 1k, 2k