二手fischerscope?-x-rayxdlm?仪器转让，安装、调试、人员培训一站式服务
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fischerscope xdal237 x射线镀层测厚仪
来自德国菲希尔的x射线荧光测量仪，带有快速可编程的xy平台和z轴，可自动测量薄涂层厚度和进行材料分析。 fischerscope x-ray xdal型仪器可以用来测量snpb焊层中的铅含量。
fischerscope xdal237 x射线镀层测厚仪
一一一 x射线荧光测量仪，带有快速可编程的xy平台和z轴，可自动测量薄涂层厚度和进行材料分析
fischerscope x-ray xdal型仪器可以用来测量snpb焊层中的铅含量。在这一- 应用中，首先要准确测量snpb的厚度以便分析pb的含量。按照航空航天工业中高可靠性的要求，为避免裂纹的出现，合金中pb的含量至少必须在3%以上。另一方面，对于日常使用的电子产品，根据rohs指令要求，pb在焊料中的含量*多不能过1000ppm.尽管xdal测量pb含量的测量下限取决于snpb镀层的厚度，但是通常情况下xdal的测量下限足够低，可以很轻易达到以上的测量需求。
凭借电机驱动（可选）与自上而下的测量方向，xdl系列测量仪器能够进行自动化的批量测试。提供 x 射线源、滤波器、准直器以及探测器不同组合的多种型号，从而能够根据不同的测量需求选择适合的 x 射线仪器。在设计上，fischerscope xray xdal型仪器和xdlm型仪器相对应。区别在于使用的探测器类型不同。在xdal上，使用了帕尔贴制冷的硅pin探测器，从而有了远好于xdlm使用的比例计数器的能量分辨率。因而，这台仪器适合于一般材料分析，痕量元素分析及测量薄镀层厚度。
x射线源是一个能产生很小光斑面积的微聚焦x射线管。然而，由于相对较小的探测器有效接收面积(相比较比例计数器探测器来说)，信号强度低，故xdal有限适用于极微小结构和测量点的测量。和xdlm类似，准直器和基本滤片是可自动切换，以便为不同测量程式创造良好的激励条件。fischerscope x-ray xdal型仪器的测量空间宽大，可以用于测量复杂几何形状的各种样品。马达驱动可调节的z轴允许放置z高可达140mm高度的样品。c型槽设计可以方便地测量诸如印刷线路板等大平面样品。
典型应用领域：
?镀层与合金的材料分析（包括薄镀层以及低含量）。来料检验，生产监控。
?研发项目
?电子行业
?接插件和触点
?黄金、珠宝及手表行业
?测量印刷线路板上仅数个纳米的au和pd镀层
?痕量分析
?根据高可靠性要求测量铅pb含量
?分析硬质镀层材料
pcb装配：含铅量测试
高速锅贴头: tin/fe
特性：
x 射线荧光仪器可配备多种硬件组合，可完成各种测量任务
由于测量距离可以调节（*可达 80 mm），适用于测试已布元器件的电路板或腔体结构的部件
通过可编程 xy 工作台与 z 轴（可选）实现自动化的批量测试
使用具有高能量分辨率的硅漂移探测器，非常适用于测量薄镀层（xdal 设备）
应用：
镀层厚度测量：
大型电路板与柔性电路板上的镀层测量
电路板上较薄的导电层和/或隔离层
复杂几何形状产品上的镀层
铬镀层，如经过装饰性镀铬处理的塑料制品
氮化铬 (crn)、氮化钛 (tin) 或氮碳化钛 (ticn) 等硬质涂层厚度测量
材料分析：
电镀槽液分析
电子和半导体行业中的功能性镀层分析