picofemto系列透射电镜原位加热/电学样品杆，基于mems原位芯片技术，通过更换多种类型的加热芯
片或电学芯片，在透射电镜中实现对样品加热或加电的原位功能。
picofemto 系列透射电子显微镜 原位加热/电学样品杆 是在标准外形的透射电镜样品杆内安装mems工
艺制成的加热芯片和电学测量芯片。加热芯片可对样品进行可控温度的加热，电学测量芯片可对样品进
行电性质测量。并可在进行加热和电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元
素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。
原位加热/电学样品杆技术指标
原位加热/电学样品杆产品选型
原位加热/电学样品杆 具有单倾、双倾两个版本，电极数可选；同时可拓展真空转移芯片杆、低温芯片
杆，用户可根据实验需求自行选择。
提供适配thermofisher/fei（赛默飞）、jeol（日本电子）、hitachi（日立）各型号透射电子显微镜及
极靴的不同型号芯片式样品杆，支持定制。
原位加热/电学样品杆国内部分用户
原位加热/电学样品杆典型案例
1、透射电镜内的原位加热实验；
2、透射电镜内的原位加电实验（可选针对敏感样品的真空转移方案）；
3、透射电镜内的原位热电耦合实验；
4、透射电镜内的低温电学实验；
以上便是为您带来的透射电镜原位加热/电学样品杆介绍，关于透射电镜原位加
热/电学样品杆价格请咨询（微信同号）。
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