对产品进行可靠性试验，根据试验的目的选用什么试验方法，选用什么试验条件，如何确定失效判据，如何选择抽样方式，zui后对产品进行可靠性评价的结果符合什么可靠性等级，这在现有国内、上制定的各种可靠性技术标准上几乎都有明确规定。这说明对于电子元器件质量和可靠性水平，在上已有统一的标准。对于电子元器件产品适用于民用、工业用、军用和宇航用都有相应的标准或相应的等级要求。这为我们开展可靠性试验提供了方便条件。
用于电子元器件可靠性试验的主要技术标准如表8.5所列。在表8.5所列的各种标准中，过去美军mil标准一直在世界上占主要地位。由于现在在上存在着电子元器件可靠性认证问题，所以iec标准正逐渐成为主流。我国这方面的标准大多数是参考mil标准和iec标准制定的。世界各国的电子元器件生产厂也都按照这些标准规定的方法进行。
表8.5 主要的可靠性试验方法标准
iec标准[international electrotechnical commission电工委员会]
68号出版物：基本环境试验法
147-5号出版物：半导体器件的机械及耐气候性试验方法
mil标准[military standard（美国军用标准）]
mil-std-202：电子、电器元器件试验方法
mil-std-750：分立半导体器件试验方法
mil-std-833：微电子器件试验方法
bs标准[british standard（英国标准）]
bs-9300：半导体器件的试验方法
bs-9400：ic的试验方法
jis标准[japanese industral sandard（日本工业标准）]
jis c 7021：分立半导体器件的环境试验方法和疲劳试验方法
jis c 7022：半导体集成电路的环境试验方法和疲劳试验方法
eiaj标准[standard elcctronic industries association of japan（日本电子机械工业协会标准）]
sd-121：分立半导体器件的环境和疲劳性试验方法
ic-121：集成电路的环境及疲劳性试验方法
其它：nasa标准，cecc标准，防卫厅标准，汽车工业标准等
贝尔专业生产恒温恒湿箱，恒定湿热试验箱，冷热循环试验箱等环境试验设备